实验光路
1 .接通电源,等待激光1迅速发光,光强度稳定。 2 .打开驱动电源开关。
检查CMOS23的电信号是否点亮。
4 .光路调整时拆下反射镜4、13后,使激光扩散。
移动到反射镜4、13,不扩散激光。 注:以下所有实验的开始步骤与通用部分相同
高精密电动二维位移台本实验步骤
1 .扩展
2 .在组合工作台16、18上分别安装平面镜,调整工作台16、18进行调平,以使2路反射光经常重叠(在成像物镜20后焦点面,两反射光聚光的焦点重叠)
3 .打开电脑,微调舞台上的千分尺,显示屏上就会看到干涉条纹
调整CMOS在轨道上的位置,使干涉条纹清晰,锁定23,进一步调整可调光圈22的开口位置,过滤分光器的寄生干涉光5 .测量程序的操作参见软件的操作说明书。
可见初期电压范围内的移动距离和电压呈线性关系是符合理论的。 此时,如果电压变化到150V以后,则可能是记录数据错误的原因。 另外,在实验中,有时也会因与设备本身的原因而发生条纹移动。 其次,也可能会因实验中的微小振动而将干涉条纹的变化进行计数。 但是,我们可以根据前几组数据客观地反应位移量和电压的系统。
考试问题
1 .干涉测量的好处是什么? 写几个你知道的应用场景。
答:干涉测量技术多为非接触测量,具有高测量灵敏度、高精度、高转换增益、良好的滤波性能、良好的空间和偏振鉴别能力。 干涉测量的应用范围非常广泛,可以用于位移、长度、面形状、介质折射率的变化、振动等的测量。 2 .干涉测量采用激光的好处是什么?
答:选择激光作为光源。 激光单色性强,方向性高,干涉效果好,测量精度高,能得到清晰明亮的干涉条纹。
3 .干涉条纹的间隔大小对测量有什么影响? 应该怎么取值呢?
答:由于实验是通过条纹强度的测量来实现微小位移量变化的测量,因此条纹间隔不会影响测量结果。 但是,为了便于观察,实验时必须选择适当的条纹间隔进行测量。 实验调节干涉条纹,必须考虑条纹足够粗和对比度明亮暗淡两个方面。
4 .一般的干扰测量有什么不足吗? 如何改善?
答:由于环境因素的影响很大,实验时必须避免使试验台振动,同时避免外部光源对激光束的影响。 在有防振装置的实验台进行实验,同时调节实验光路后,最好用不透光的外罩遮挡实验光路。
通过实验掌握了激光干涉测量微小位移量的原理和方法,同时掌握了微米和亚微米
米级位移量的激光干涉测量方法,了解了激光干涉测量方法的优点和应用情况,对干涉测量法有了深入的认识。 通过这次实验不仅增加了我的理论知识,同时也锻炼了我的动手能力和解决问题的能力。